美國(guó)泰克370A晶體管測(cè)試儀Tektronix370B1.附加的功能:9..使用 370B 進(jìn)行高分辨率直流參數(shù)測(cè)量(分辨率低至 1 pA 或 2 μV)1..使用 371B 提供高電壓和電流(高達(dá) 3,000 V 或 400 A)6..內(nèi)置光標(biāo)測(cè)量 - 點(diǎn)、窗口和功能線6..開(kāi)爾文感應(yīng)測(cè)量2..掃描測(cè)量模式9..波形比較和平均2..可編程8...1.44 MB 軟盤驅(qū)動(dòng)器存儲(chǔ)曲線的設(shè)置和位圖1..使用第三方打印機(jī)直接硬拷貝6..半導(dǎo)體的參數(shù)表征故障分析數(shù)據(jù)表生成制造測(cè)試過(guò)程監(jiān)控和質(zhì)量控制即將到來(lái)的檢查組件匹配泰克 370B 提供高達(dá) 20 A/2,000 V 的輸出能力以及 1 pA 和 50 micro V 的測(cè)量分辨率。370B 對(duì)集成電路、晶體管、晶閘管、二極管、SCR、MOSFET、電光元件、太陽(yáng)能電池、固態(tài)繼電器和其他半導(dǎo)體器件進(jìn)行直流參數(shù)表征。
它具有按鈕源和測(cè)量配置,因此可以輕松地從一個(gè)測(cè)試更改為下一個(gè)測(cè)試。