滿足標準 

GB-2423.1-89（IEC68-2-1）試驗A：低溫試驗方法。

GB-2423.2-89（IEC68-2-2）試驗B：高溫試驗方法。

GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高溫壽命試驗。

GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗方法。

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法。

GB/T 2423.2-2008試驗B《高溫試驗方法》

GB/T 2423.3-2006試驗C《恒定濕熱方法》

GB/T 10586-2006《濕熱試驗箱技術(shù)條件》

GB10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件

GB10586-89低溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件

GB10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件

GB11158 高溫試驗箱技術(shù)條件

GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法

GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：高溫試驗方法

GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca恒定濕熱試驗方法

GB/T2423.4-93 交變濕熱試驗方法

GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗方法

IEC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法

IEC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法