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聚焦離子束掃描電子顯微鏡

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參考價 300000
訂貨量 1
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號 15850350764
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 蘇州市

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更新時間:2021-03-04 15:44:28瀏覽次數(shù):600

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產(chǎn)品簡介

蔡司Crossbeam系列的FIB-SEM結(jié)合了場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)出色的成像和分析性能,和新一代聚焦離子束(FIB)優(yōu)異的加工性能。無論是在科研或是工業(yè)實驗室,您都可以在一臺設(shè)備上實現(xiàn)多用戶同時操作。得益于蔡司Crossbeam系列模塊化的平臺設(shè)計理念,您可以根據(jù)自己需求的變化隨時升級儀器系統(tǒng)。在加工、成像或是實現(xiàn)三維重構(gòu)分析時,Crosssbeam系列都將大大提升您的應(yīng)用體驗。

詳細介紹

 蔡司 Crossbeam 340蔡司 Crossbeam 550
掃描電子束系統(tǒng)Gemini I VP 鏡筒

Gemini II鏡筒

可選Tandem decel

樣品倉尺寸和接口標準樣品倉有18個擴展接口標準樣品倉有18個擴展接口或者加大樣品倉有22個擴展接口
樣品臺X/Y方向行程均為100mmX/Y方向行程:標準樣品倉100mm加大樣品倉153 mm 
荷電控制

荷電中和電子槍

局域電荷中和器

可變氣壓

荷電中和電子槍

局域電荷中和器

 

可選選項

Inlens Duo探測器可依次獲取SE/EsB圖像

VPSE探測器

Inlens SE 和 Inlens EsB可同時獲取SE和ESB成像

大尺寸預(yù)真空室可傳輸8英寸晶元

注意加大樣品倉可同時安裝3支壓縮空氣驅(qū)動的附件。例如 STEM, 4分割背散射 探測器和局域電荷中和器

特點由于采用了可變氣壓模式,從而具有更大范圍的樣品兼容性,適用于各類原位實驗,可依次獲取SE/EsB圖像高效的分析和成像,在各種條件下保持高分辨特性,同時獲取Inlens SE和Inlens ESB圖像
  *SE 二次電子,EsB 能量選擇背散射電子

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