簡(jiǎn)介：
美國(guó)OEwaves公司的HI-Q光學(xué)測(cè)試測(cè)量系統(tǒng)提供了*自動(dòng)化地測(cè)量連續(xù)激光器或激光光源的超低相位噪聲測(cè)量。這個(gè)光學(xué)測(cè)試測(cè)量系統(tǒng)能夠快速地測(cè)量激光相位噪聲，評(píng)估其線寬的半高寬度低至< 3 Hz,而無(wú)需復(fù)雜的測(cè)試架構(gòu)和參考激光即可作這樣的窄線寬測(cè)量。

詳細(xì)介紹

簡(jiǎn)介：

美國(guó)OEwaves公司的HI-Q光學(xué)測(cè)試測(cè)量系統(tǒng)提供了*自動(dòng)化地測(cè)量連續(xù)激光器或激光光源的超低相位噪聲測(cè)量。這個(gè)光學(xué)測(cè)試測(cè)量系統(tǒng)能夠快速地測(cè)量激光相位噪聲，評(píng)估其線寬的半高寬度低至< 3 Hz,而無(wú)需復(fù)雜的測(cè)試架構(gòu)和參考激光即可作這樣的窄線寬測(cè)量。

該系統(tǒng)在寬帶測(cè)量方面是低噪聲參考激光光源。該系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單、方便、快速、精度高，且無(wú)需附加額外的測(cè)試設(shè)備。這臺(tái)超低相位/頻率噪聲分析儀可擴(kuò)展到不同的輸入波段，并用于低相對(duì)強(qiáng)度噪聲測(cè)量。

特點(diǎn)：

? 超低相位/頻率噪聲測(cè)量

? 快速實(shí)時(shí)測(cè)量

? 即刻和擴(kuò)展的FWHM線寬分析

? 不需要低噪聲參考光源

? 用戶友好界面

? 簡(jiǎn)單的基于PC的操作

? 3U x 19英寸機(jī)架系統(tǒng)

? 可定制的配置、升級(jí)和選項(xiàng)

光學(xué)測(cè)試測(cè)量系統(tǒng)
型號(hào)	OE4000
波長(zhǎng)	1530 – 1565 nm
動(dòng)力學(xué)范圍	60dB
光學(xué)輸入功率范圍	+5 to +15 dBm (PM-FC/APC)
測(cè)量類型	頻率噪聲/零差相位
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與I/O	HDD / USB端口
帶寬分辨率	0.1 Hz – 200 kHz
電源電壓	110 / 120 or 220 / 240 Vac ; 50 / 60Hz
光學(xué)測(cè)試測(cè)量系統(tǒng)尺寸	3U x 19英寸機(jī)架式
低或高輸入功率范圍	可選
波長(zhǎng)范圍(可選)	740 – 935 / 965 – 1065 / 1000 – 1100 / 1260 – 1360 / 1530 – 1625 / 1950 – 2150 (nm) (選擇多波長(zhǎng)范圍以及定制波長(zhǎng)范圍請(qǐng)咨詢)

可選擇的配置：

? 在630 nm - 2200 nm范圍內(nèi)多個(gè)輸入波段

? 超低噪聲基底

? 相對(duì)強(qiáng)度噪聲測(cè)量

? 擴(kuò)展的偏移頻率范圍可達(dá)2 GHz

? 擴(kuò)展的輸入功率范圍

? 遠(yuǎn)程操作

? 性能和頻率

? 定制范圍選擇和升級(jí)

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