奧林巴斯原裝38DL PLUS超聲波測厚儀

注：所有價格以實際咨詢?yōu)闇?zhǔn)
 歡迎廣大客戶來咨詢    183**6840**9452?

奧林巴斯超聲波測厚儀38DL PLUS

■雙晶與單晶探頭

■堅固耐用，設(shè)計符合IP67標(biāo)準(zhǔn)

■厚度測量范圍0.08毫米到635毫米

■彩色透反VGA顯示

對內(nèi)部腐蝕的金屬材料進(jìn)行厚度測量

用戶使用單晶探頭可以精確測量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和接口類型的單晶探頭。用戶使用高分辨率軟件選項可以進(jìn)行分辨率

為0.001毫米的極其精確的厚度測量。

•對于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。

•在使用頻率范圍為2.25 MHz到30 MHz的單晶探頭的情況下，高分辨率軟件選項可顯示分辨率高達(dá)0.001毫米的測量值。

•高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。

•多層軟件選項可對多達(dá)4個不同層的厚度同時進(jìn)行測量。

•測量厚度、聲速或渡越時間。

•帶有默認(rèn)設(shè)置和自定義設(shè)置的自動調(diào)用應(yīng)用簡化了厚度測量操作。

高穿透軟件選項

用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。

多層軟件選項

這個軟件選項計算并同時顯示多達(dá)4個不同層的厚度測量值。這個功能還可顯示所選各層的總厚度。典型的應(yīng)用包括對塑料燃料箱中的阻擋層、瓶子的預(yù)成型坯及軟性隱型眼睛進(jìn)行的厚度測量。

主要特性

■可與雙晶和單晶探頭兼容。

■寬泛的厚度測量范圍: 0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。

■使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測厚。

■穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。

■內(nèi)部氧化皮/沉積物軟件選項。

■對于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。

■使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚度測量。

■多層軟件選項可對多達(dá)4個不同層同時進(jìn)行測量。

■高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。

■厚度、聲速和渡越時間測量。

■差分模式和縮減率模式。

■時基B掃描模式;每次掃查可獲得10000個可查讀數(shù)。

■帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動態(tài)增益技術(shù)。

■用于自定義V聲程補償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。

■設(shè)計符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)

奧林巴斯原裝38DL PLUS超聲波測厚儀 技術(shù)規(guī)格

測量

雙晶探頭測量模式從激勵脈沖后的精確延時到*個回波之間的時間間隔。

穿透涂層測量模式

利用單個底面回波（使用D7906-SM和D7908探頭），測量金屬的實際厚度和涂層厚度。

穿透漆層回波到回波測量模式在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。

單晶探頭測量模式

模式1：激勵脈沖與*個底面回波之間的時間間隔。

模式2：延遲線回波與*個底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。

模式3：在激勵脈沖之后，位于*個表面回波后的相鄰底面回波之間的時

間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。

氧化皮模式：可選。

多層模式：可選。

厚度范圍0.080 mm～635.00 mm，視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。

材料聲速范圍0.508 mm/μs～13.998 mm/μs

分辨率（可選擇）

低分辨率：0.1 mm

標(biāo)準(zhǔn)分辨率：0.01 mm

高分辨率（可選項）：0.001 mm

探頭頻率范圍

標(biāo)準(zhǔn)：2.0 MHz～30 MHz（–3 dB）

高穿透（可選項）：0.50 MHz～30 MHz（–3 dB）