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薄膜厚度測量儀

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更新時間：2021-08-25 08:37:27瀏覽次數(shù)：345次

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產(chǎn)品簡介

薄膜厚度測量儀

詳細(xì)介紹

740)this.width=740" height=36>

尺寸 190 x 265 x 316 mm
重量 12Kg
類型 手動的
測量樣本大小 ≤ 4"
測量方法 非接觸式
測量原理 反射計
特征
測量迅速，操作簡單
非接觸式，非破壞方式
優(yōu)秀的重復(fù)性和再現(xiàn)性
用戶易操作界面
每個影像打印和數(shù)據(jù)保存功能
可測量多達(dá)3層
可背面反射

740)this.width=740" height=33>

活動范圍 150 x 120mm(70 x 50mm 移動距離)
測量范圍 200Å~ 35㎛(根據(jù)膜的類型)
光斑尺寸 20㎛ 典型值
測量速度 1~2 sec./site
應(yīng)用領(lǐng)域
聚合體: PVA, PET, PP, PR ...
電解質(zhì): 740)this.width=740">
半導(dǎo)體: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
選擇 參考樣品(K-MAC or KRISS or NIST)
探頭類型 三目探頭
nosepiece Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
照明類型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer


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