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篤摯儀器(上海)有限公司


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英國牛津Oxford? CMI760涂鍍層測厚儀?

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產(chǎn)品型號CMI760

品       牌

廠商性質(zhì)其他

所  在  地上海市

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更新時(shí)間:2024-05-03 12:01:42瀏覽次數(shù):223次

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商鋪產(chǎn)品:54條

所在地區(qū):

產(chǎn)品簡介

CMI 760系列專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。CMI760可用于測量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺式測厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達(dá)到對表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確和精確的測量。CMI 760臺式測量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性,對多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測試的多種應(yīng)用需求。

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品描述




CMI 760系列專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。CMI760可用于測量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺式測厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達(dá)到對表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確和精確的測量。CMI 760臺式測量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性,對多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測試的多種應(yīng)用需求。 同時(shí)CMI760具有的統(tǒng)計(jì)功能用于測試數(shù)據(jù)的整理分析。 

CMI760:高靈活性的銅厚測量儀、線路板孔銅&面銅測厚儀、臺式測厚儀,采用微電阻和電渦流方式測量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度。具有多功能性、高擴(kuò)展性和的統(tǒng)計(jì)功能,統(tǒng)計(jì)功能用于數(shù)據(jù)整理分析。

CMI 760配置包括: 

CMI700主機(jī)及證書 
SRP-4面銅探頭 
SRP-4探頭替換用探針(1個(gè))

NIST認(rèn)證的校驗(yàn)用SRP標(biāo)準(zhǔn)片及證書

ETP孔銅探頭 
NIST認(rèn)證的校驗(yàn)用ETP標(biāo)準(zhǔn)片及證書
選配配件: 

SRG軟件 




SRP-4面銅探頭測試技術(shù)參數(shù)
ETP孔銅探頭測試技術(shù)參數(shù)
 銅厚測量范圍: 
化學(xué)銅:0.25μm - 12.7μm(10μin - 500μin) 
電鍍銅:2.5μm - 254μm(0.1mils - 10mils) 
線性銅線寬范圍:203μm - 7620μm(8mil - 300mil)
準(zhǔn)確度:±1%(±1μm)參考標(biāo)準(zhǔn)片 
精確度:化學(xué)銅:標(biāo)準(zhǔn)差0.2%,電鍍銅:標(biāo)準(zhǔn)差0.3% 

分辨率:0.1μm≥10μm,0.01μm<10μm,0.001μm<1μm,0.01mils≥1mil,0.001mils<1mil 



 可測孔*小直徑:Φ0.899mm(35mils) 

孔徑范圍:0.899mm - 3.0mm 
厚度范圍:2μm - 102μm(0.08 - 4.0mils) 

準(zhǔn)確度:±0.01mils(0.25μm)<1mil(25μm) 

精確度:1.2milS時(shí),達(dá)到1%(實(shí)驗(yàn)室情況下)
分辨率:0.01mils(0.25μm)
TRP-M(微孔)探頭測試技術(shù)參數(shù)

*小可測試孔直徑范圍:10 – 40 mils (254 – 1016 μm) 

孔內(nèi)銅厚測試范圍:0.5-2.5mils(12.7-63.5μm) 
*大可測試板厚:175mil (4445 μm) 
*小可測試板厚:板厚的*小值必須比所對應(yīng)測試線路板的*小孔孔徑值高3mils(76.2μm) 
準(zhǔn)確度(對比金相檢測法):±0.01 mil (0.25 μm) < 1="" mil="" (25="">
±10%≥1mil(25 μm) 
精確度:不建議對同一孔進(jìn)行多次測試 
分辨率:0.01 mil(0.1 μm)





ETP 探頭ETP探頭采用電渦流測試技術(shù)。電渦流測試方法指示出印刷電路板穿孔內(nèi)銅厚是否符合要求。特別設(shè)計(jì)的探頭使測量準(zhǔn)確、不受板內(nèi)層影響,即使是雙層板或多層板,甚至在有錫或錫/鉛保護(hù)層的情況下,同樣能夠良好工作。另外,CMI760儀器配ETP 探頭采用溫度補(bǔ)償技術(shù),即使是剛從電鍍槽內(nèi)取出的板,也能實(shí)現(xiàn)對穿孔內(nèi)鍍銅厚度的測量。

TRP 探頭配備TRP探頭,CMI760可精確測試穿孔的質(zhì)量,包括孔內(nèi)鍍銅的裂縫、空洞和不均勻性。TRP的36-點(diǎn)測量系統(tǒng)是牛津儀器的,對穿孔鍍銅品質(zhì)進(jìn)行量化,而且只有牛津儀器擁有這項(xiàng)產(chǎn)品。錐體形的探針確保了三個(gè)接觸點(diǎn)的可重復(fù)性,以保證測量的準(zhǔn)確性、可重復(fù)性和再現(xiàn)性。


主機(jī)技術(shù)規(guī)格

存 儲 量:8000字節(jié) 

儀器尺寸:292x270x140mm 

儀器重量:2.79kg 
測量單位:um、mils、μin、in、mm、%可選,通過按鍵實(shí)現(xiàn)公制英制自動轉(zhuǎn)換 
接口:RS232串行接口,波特率可調(diào),用于下載到打印機(jī)或電腦 
顯示:6位LCD數(shù)顯,帶背光和寬視覺的液晶顯示屏,480(H)*32(V)像素 
統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù):測量個(gè)數(shù)、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、*大值max、*小值min 
統(tǒng)計(jì)報(bào)告:需配串行打印機(jī)或電腦下載,存儲位置,測量個(gè)數(shù),銅箔類型,線性銅線寬,測量日期時(shí)間,平均值,標(biāo)準(zhǔn)差,方差百分比,準(zhǔn)確度,*高值,*低值,值域,CPK值,單個(gè)讀數(shù),時(shí)間戳,直方圖 
圖表:直方圖、趨勢圖、X-R圖 

電源:AC220V 



關(guān)于我們/About Us

篤摯儀器(上海)有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè),用于評價(jià)材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能,推動著制造技術(shù)的精益求精。


關(guān)鍵詞:測厚儀
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