半導(dǎo)體用全氟O型圈，墊片，異形件唇密封壓力試樣的實(shí)驗(yàn)程序
當(dāng)唇已被分離到規(guī)定的距離時(shí)，關(guān)閉試驗(yàn)機(jī)，并記錄產(chǎn)生這一開(kāi)度所需的作用力。
按以上重復(fù)操做，直到每種類型的四個(gè)試樣試驗(yàn)完成為止。
每個(gè)試驗(yàn)溝槽的唇密封壓力按式計(jì)算：
P_LS=F/L
式中：P_LS——唇密封壓力 N/m；F——把試樣的唇部張開(kāi)到規(guī)定距離所需的力，N；L——試樣長(zhǎng)度（精確到0.002m）,m。
注：對(duì)于模壓拐角試樣，L是從拐角外側(cè)測(cè)定的長(zhǎng)度
半導(dǎo)體用全氟O型圈，異形件，雜件應(yīng)符合下列實(shí)驗(yàn)要求
2） 泄漏。無(wú)連續(xù)不斷的液體從密封件漏出，至少檢查兩次，履職上不應(yīng)出現(xiàn)因吸收液體而產(chǎn)生的變色。
3） 腐蝕?；钊透左w的內(nèi)腔不應(yīng)出現(xiàn)腐蝕，列如肉眼可見(jiàn)的蝕損斑，但允許有輕微發(fā)暗或變色
4） 硬度變化。按實(shí)驗(yàn)程序中的規(guī)定進(jìn)行試驗(yàn)，密封件的硬度下降不應(yīng)超過(guò)15卲爾。
5） 實(shí)驗(yàn)密封件的狀態(tài)。密封件不應(yīng)有過(guò)度的損壞，如劃痕，磨蝕，氣泡，裂紋、缺角（跟部磨損）或變形
