Pfeiffer 質譜分析儀 SPM 220 產品優(yōu)勢:
1.用于瞬時過程監(jiān)測的鍍膜工藝監(jiān)測器離子源
2.用于 H2, O2, H2O 和 CO2 的優(yōu)秀檢測限
3.對測量結果的最小化背景影響
4.提供壓力高達 10 hPa 的壓差型號
5.多重操作允許帶單個 PC 的多個質譜儀系統(tǒng)進行數(shù)據(jù)評估
6.靈活集成的緊湊尺寸
7.通過各種數(shù)字和模擬輸入和輸出, 使系統(tǒng)集成方便而靈活
1.用于瞬時過程監(jiān)測的鍍膜工藝監(jiān)測器離子源
2.用于 H2, O2, H2O 和 CO2 的優(yōu)秀檢測限
3.對測量結果的最小化背景影響
4.提供壓力高達 10 hPa 的壓差型號
5.多重操作允許帶單個 PC 的多個質譜儀系統(tǒng)進行數(shù)據(jù)評估
6.靈活集成的緊湊尺寸
7.通過各種數(shù)字和模擬輸入和輸出, 使系統(tǒng)集成方便而靈活
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