加速壽命試驗機
特點
加速壽命試驗機(HAST)廣泛應用于集成電路/微電子/IC等領域,其試驗目的是提高環(huán)境應力,如溫度與工作應力施加給產(chǎn)品的電壓/負荷等,加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調查分析被測試樣品何時出現(xiàn)的磨耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障。分布函數(shù)呈現(xiàn)什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。
參考價 | 面議 |
特點
加速壽命試驗機(HAST)廣泛應用于集成電路/微電子/IC等領域,其試驗目的是提高環(huán)境應力,如溫度與工作應力施加給產(chǎn)品的電壓/負荷等,加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調查分析被測試樣品何時出現(xiàn)的磨耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障。分布函數(shù)呈現(xiàn)什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。
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