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NanoXSpot微焦點(diǎn)測試儀

參考價面議
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  • 公司名稱深圳市凈康科技有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號
  • 所  在  地深圳市
  • 廠商性質(zhì)代理商
  • 更新時間2024/11/25 16:57:04
  • 訪問次數(shù)73
產(chǎn)品標(biāo)簽:

NanoXSpot焦點(diǎn)測試儀

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深圳市凈康科技有限公司注冊地址位于深圳市龍崗區(qū)南灣街道吉廈社區(qū)沙平北路111號6008,注冊機(jī)關(guān)為深圳市市場監(jiān)督管理局龍崗監(jiān)管局,法人代表為王碧英,經(jīng)營范圍包括計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)開發(fā)、電子商務(wù)、進(jìn)出口貿(mào)易、技術(shù)轉(zhuǎn)讓、技術(shù)咨詢、技術(shù)服務(wù);通訊設(shè)備(不含衛(wèi)星廣播電視地面接收設(shè)施及發(fā)射裝置)、機(jī)械設(shè)備、五金產(chǎn)品、電器產(chǎn)品的銷售。

儀器、模體
NanoXSpot微焦點(diǎn)測試儀用于對光斑尺寸 <100 µm 的 X 射線管進(jìn)行質(zhì)量保證,根據(jù) prEN 12453-6、prEN 12453-7 評估焦點(diǎn)尺寸 <100 µm 和光斑形狀
NanoXSpot微焦點(diǎn)測試儀 產(chǎn)品信息

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NanoXSpot焦點(diǎn)測試儀用于對光斑尺寸 <100 µm 的 X 射線管進(jìn)行質(zhì)量保證,根據(jù) prEN 12453-6、prEN 12453-7 評估焦點(diǎn)尺寸 <100 µm 和光斑形狀

歐洲計(jì)量創(chuàng)新與研究計(jì)劃項(xiàng)目開發(fā)了新的 NanoXSpot (NxS) 測量儀,具有線組、西門子星形和孔圖,用于測量小至 100 納米的聚焦光斑

計(jì)算機(jī)斷層掃描 (CT)可以根據(jù)從物體周圍不同角度拍攝的一系列 X 射線圖像重建物體的體積數(shù)據(jù)集,這項(xiàng)技術(shù)被廣泛用于醫(yī)學(xué)中的患者診斷。此外,它還被用于航空航天和電子等行業(yè)的無損檢測、缺陷與內(nèi)部結(jié)構(gòu)的評估以及產(chǎn)品尺寸的驗(yàn)證。這些行業(yè)對檢測分辨力的要求小至納米級。

隨著電子設(shè)備的小型化變得越來越普遍,以及隨著新技術(shù)(如電動汽車)的出現(xiàn)和航空工業(yè)中輕質(zhì)化合物的使用,對 5微米或更小分辨力(大約人類頭發(fā)絲寬度的 1/10)的 CT 測量的需求日益增加。X 射線管的光斑尺寸直接影響到測量分辨力。但是,對于5微米以下的 X 射線管光斑尺寸,沒有國1際公1認(rèn)的標(biāo)準(zhǔn)或測量方法。X 射線設(shè)備制造商采用自有的測量方法導(dǎo)致了不一致的結(jié)果。因此,研究人員正在開發(fā)基于可溯源表征的測量儀來確定光斑大小、形狀和位置的新方法,并將作為這些光斑測量的國1際公1認(rèn)標(biāo)準(zhǔn)引入。

歐洲計(jì)量創(chuàng)新與研究計(jì)劃(EMPIR)項(xiàng)目《對光斑小至100納米的 X 射線管焦斑尺寸的測量 (NanoXSpot,18NRM07)》正在開發(fā)新的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐,以比目前更高的準(zhǔn)確度水平表征 X 射線焦斑。

 

X 射線管的質(zhì)量保證 – 光斑尺寸和形狀
一段時間后,可能會觀察到 X 射線管(尤其是納米和微焦管)目標(biāo)的燒毀使用量,這可能導(dǎo)致光斑尺寸增加。一些管制造商允許管目標(biāo)旋轉(zhuǎn)。這允許改變目標(biāo)上的焦點(diǎn)位置并提供不失真的焦點(diǎn)尺寸

NanoXSpot微焦點(diǎn)測試儀

NanoXSpot微焦點(diǎn)測試儀




NanoXSpot微焦點(diǎn)測試儀

NanoXSpot 測量儀 (NxS)

? 全新測量儀設(shè)計(jì) NxS-1020 最終確定:

• 使用新開發(fā)的算法進(jìn)行焦點(diǎn)測量和特性分析

• 全新焦點(diǎn) CT 重建算法

? 樣品支架設(shè)計(jì)便于測量儀使用

? NxS 測量儀上的圖案組(4 個象限):

• 不同方向的線組圖案結(jié)構(gòu),特征尺寸為 3-12 µm(Q1)

• 會聚線組圖案(Q2 和 Q3)(類似于西門子星)

• 直徑為 5 µm 至 1 mm 的孔圖案(Q4)




NanoXSpot微焦點(diǎn)測試儀

重新設(shè)計(jì)的 NxS-1022b 儀表

? 樣品架設(shè)計(jì)便于使用儀表

? NxS 儀表上的圖案組(4 個象限):

• 不同方向的線組圖案結(jié)構(gòu),特征尺寸為 4-20 µm(Q1)

• 不同方向的線組圖案結(jié)構(gòu),特征尺寸為 63 µm(Q2)

• 直徑為 5 µm 至 1000 µm 的孔圖案(Q3)

• 不同方向的線組圖案結(jié)構(gòu),特征尺寸為 25-50 µm(Q4)


規(guī)格:

外形尺寸:10 mm x 10 mm 芯片尺寸(帶藍(lán)寶石玻璃蓋的支架:40 毫米 x 30 毫米 x 5 毫米)

材料

襯底:200 μm 厚硅

吸收器:8 μm 高的金
線寬/間距:公差:+/- 15%
圖形線寬 [μm]:4 個象限,每個象限 4 mm x 4 mm;2 個經(jīng)過改進(jìn)的西門子星形,具有圓孔和 5 條平行金線,線寬和間距分別為 12 μm、10 μm、8 μm、6 μm、5 μm、4 μm 和 3 μm。最小線寬:3 μm。最小孔徑:5 μm


關(guān)鍵詞:無損檢測
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