二探針單晶硅及多晶硅測(cè)試儀型號(hào)：TC-GL-1本儀器主要用于測(cè)量大直徑的單晶硅和多晶硅的電阻率分布情況，以便硅材料的切割和加工。為適應(yīng)大規(guī)模集成電路的迅猛發(fā)展，特別是計(jì)算機(jī)芯片、內(nèi)存的發(fā)展，越來(lái)越多的使用到