產(chǎn)品簡(jiǎn)介：HemiView葉面圖像分析系統(tǒng)通過(guò)處理影像數(shù)據(jù)文件來(lái)獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過(guò)分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息，能夠測(cè)算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。其軟件