電子產(chǎn)品靜電放電（ESD）抗擾度試驗(yàn)是電磁兼容性(EMC)的Z重要的試驗(yàn)之一，隨著電子產(chǎn)品的集成度越來(lái)越高和運(yùn)行速度越來(lái)越快以及電磁環(huán)境越來(lái)越復(fù)雜，其標(biāo)準(zhǔn)也必定會(huì)越來(lái)越嚴(yán)酷。為了滿足電磁兼容認(rèn)證的要求，我們開