對高性能電子產(chǎn)品進(jìn)行高溫老化試驗（如：計算機整機，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機板、監(jiān)視器等）。仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設(shè)備，在電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域這個設(shè)備也有在廣泛應(yīng)用，是提高